Системы сверхразрешения позволяют получить изображения с точностями, намного превышающими дифракционный предел Релея. Можно условно разделить их на два класса – конфокальные и широкопольные. К широкопольным относятся технологии GSTORM, PAL-M, SR GSD, технология структурированного освещения SIM. 
STED3X - Среди методик сверхразрешения существует только одна конфокальная: уникальная система сверхразрешения со стимулированным истощением эмиссии Leica STED3X. Предел разрешения такой системы составляет 50 нм. Эти технологии позволяют исследовать колокализационные процессы в живых клетках в нанодиапазоне. Второй важной характеристикой данной технологии является быстродействие – обеспечивается скорость получения изображение порядка 1 секунды, тогда как для других упомянутых технологий время получения одного изображения составляет от 2 до 10 минут.  
GSTORM – технология стохастической оптической реконструктивной микроскопии. Особенность в том, что флуоресцентный краситель, за счет лазерного импульса переходит в темновое состояние. Далее происходит активация с очень маленькой интенсивностью, с возбуждением только небольшой части молекул в один момент времени. Это дает возможность оценить положение центра масс молекул при программной постобработке. Достижимая точность порядка 20 нм.  (В 10 раз лучше, чем обычный микроскоп).
SR GSD – технология является аналогом технологии GSTORM, но позволяет добиться большей гибкости, так как нет никаких ограничений по флуоресцентным красителям.
PAL-M – технология фотоактивированной микроскопии. При этой технологии используются фотоактивируемые флуоресцентные белки (paf protein), которые в обычном состоянии не излучают свет. Но как только происходит их фотоактивация с помощью очень меленькой интенсивностью, они начинают излучать свет на большей длине волны. Поскольку возбуждается только небольшая часть молекул, которые удалены друг от друга на расстояние больше дифракционного предела,  то это дает возможность оценить положение центра масс молекул при программной постобработке. Достижимая точность порядка 20 нм.  (В 10 раз лучше, чем обычный микроскоп).
SIM – технология структурированного освещения, при которой объект подсвечивается системой полос, создаваемых дифракционным оптическим элементом, который сканирует плоскость предмета с разной ориентации этой системы полос. Происходит модуляция информации о показателе преломления и высоте объекта, причем в разных направлениях. После программной постобработки система полос вычитается, и остается именно информация о топологии объекта. Точность такой технологии порядка 100 нм (в 2 раза лучше, чем обычный микроскоп).
Наши сотрудники с радостью расскажут более подробно о технологических возможностях данного класса приборов!